Scanning Electron Microscopy

2 Ergebnisse gefunden.
PISA – ZEISS Ultra Plus Raster Elektronen Mikroskop (SEM)

Mit dem ZEISS Feldemissionsrasterelektronenmikroskop Ultra Plus können hochaufgelöste Bilder erfasst, analysiert und ergänzt werden, um die gesamte Information aus einer Probe zu erhalten. Das komplette Detektionssystem des Ultra Plus kombiniert ein…

RFA Element-Scanning Labor

Das Labor für RFA (Röntgenfluoreszenz)-Element-Scanning konzentriert sich auf zerstörungsfreie und kontinuierliche Kernanalysen. Diese Analysen ermöglichen eine detaillierte geochemische Charakterisierung kompletter Sedimentkerne bis hin zu einzelne…