PISA – ZEISS Ultra Plus Raster Elektronen Mikroskop (SEM)

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Mit dem ZEISS Feldemissionsrasterelektronenmikroskop Ultra Plus können hochaufgelöste Bilder erfasst, analysiert und ergänzt werden, um die gesamte Information aus einer Probe zu erhalten. Das komplette Detektionssystem des Ultra Plus kombiniert eine High-Tech-Gemini FE-REM-Säule mit verschiedenen Detektoren: den In-Lens & SE-Detektor für hochauflösende Bilder, den In-Lens Energy Selective Backscatter Detektor (EsB) & Annular Backscatter Detektor (AsB) für einen beeindruckenden Materialkontrast jeder Probe, und die Energiedispersive Spektroskopie (EDS) für die Elementaranalyse. Wir können das ZEISS Ultra Plus in verschiedenen wissenschaftlichen Bereichen einsetzen, einschließlich auf den Gebieten der Material- und der geologischen Forschung. Hier können wir analytische Verfahren kombinieren und die maximale Anzahl von Informationen aus Ihrer Probe abrufen. In den Biowissenschaften können wir mit dem Ultra Plus die Proben einfach mit hohem Durchsatz analysieren und große Datenmengen erhalten. Darüber hinaus bietet das Ultra Plus auch die Möglichkeit, biologische Proben in natürlichem Zustand mit Kryo-Attachment und Kathodolumineszenz (KL) für mineralogische Analysen zu analysieren.

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Instrumentierung

Laboratory instrumentation

Instrument

  • Scanning Electron Microscope

    The Scanning Electron Microscope (SEM) is one of the most versatile and widely used tools of modern science as it allows the study of both morphology and composition of biological and physical materials. By scanning an electron probe across a specimen, high resolution images of the morphology or topography of a specimen, with great depth of field, at very low or very high magnifications can be obtained. Compositional analysis of a material may also be obtained by monitoring secondary X-rays produced by the electron-specimen interaction. Thus detailed maps of elemental distribution can be produced from multi-phase materials or complex, bio-active materials. Characterization of fine particulate matter in terms of size, shape, and distribution as well as statistical analyses of these parameters, may be performed. There are many different types of SEM designed for specific purposes ranging from routine morphological studies, to high-speed compositional analyses or to the study of environment-sensitive materials. The Centre for Microscopy & Microanalysis presents three particular types of SEM that, in combination, provide a powerful analytical approach for many research or quality-control applications. Additional information available at "http://www.uq.edu.au/nanoworld/sem_gen.html" [Summary provided by The University of Queensland] (Source: Global Change Master Directory (GCMD). 2023. GCMD Keywords, Version 16.3. Greenbelt, MD: Earth Science Data and Information System, Earth Science Projects pision, Goddard Space Flight Center (GSFC) National Aeronautics and Space Administration (NASA). URL (GCMD Keyword Forum Page): https://forum.earthdata.nasa.gov/app.php/tag/GCMD+Keywords)

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