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Electron Backscatter Diffraction

2 Ergebnisse gefunden.
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PISA – ZEISS Ultra Plus Raster Elektronen Mikroskop (SEM)

Mit dem ZEISS Feldemissionsrasterelektronenmikroskop Ultra Plus können hochaufgelöste Bilder erfasst, analysiert und ergänzt werden, um die gesamte Information aus einer Probe zu erhalten. Das komplette Detektionssystem des Ultra Plus kombiniert ein…